UV測控綜合(he)測試(shi)設備(bei)(bei)為(wei)UV頻(pin)段的(de)星載測控通(tong)信產品(pin)的(de)研發和生產提供功能調(diao)試(shi)、性能指標測試(shi)與(yu)系統聯試(shi)等場景,配備(bei)(bei)外部擴展接(jie)口,具備(bei)(bei)驅動(dong)天線伺服機構能力,可以(yi)實現UV頻(pin)段地面站快速構建。